锡须观察测量
锡须观察测量 测量介绍
锡须是一种从镀层表面自发生长出来的柱形或圆柱形的细丝,通常为单晶金属,具有多种形态,如直线型、弯曲、扭结、环形等,截面形状也各异,有星形、带形、不规则多边形以及花形等。其表面一般有纵向的条纹或者凹槽,长度从几μm到几百μm不等,甚至达到数毫米。中科检测开展锡须观察测量服务,为产品失效分析提供技术支持。
锡须观察测量 锡须产生原理
影响锡须生长的因素很多,主要包括应力、金属间化合物、镀层晶粒大小与取向、基体材料、镀层厚度、温度及环境、电镀工艺、合金元素、辐射等。锡须成长简单来说就是一种应力释放的现象。就现在的研究结果来看,应力的形式简单可以分为三种应力类型:机械应力、热应力、化学应力;其中化学应力是造成锡须自发性成长的最重要原因。
锡须观察测量 测量方法
锡须观察是通过环境试验进行加速模拟,目前做得最多的方法是以下几种:
1,高温高湿时锡须生长曲线
2,冷热冲击时锡须生长曲线
3,室温时锡须生长曲线
4,施加纵向压力时锡须生长曲线
锡须观察测量 测量标准
JYT 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
JESD 22A121.01 Test Method for Measuring Whisker Growth on Tin and Tin Alloy Surface Finishes
JESD201A Environmental Acceptance Requirements for Tin Whisker Susceptibility of Tin and Tin Alloy Surface Finishes
IEC 60068-2-82-2009 Environmental testing - Part 2-82: Whisker test methods for electronic and electric components
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